-
Karakterizacija površina – elipsometrija
Spektroskopska elipsometrija je nedestruktivna i beskontaktna metoda karakterizacije površina, koja se temelji na mjerenju promjena u polarizaciji svjetlosnog snopa,...
31. kolovoza 20170
Spektroskopska elipsometrija je nedestruktivna i beskontaktna metoda karakterizacije površina, koja se temelji na mjerenju promjena u polarizaciji svjetlosnog snopa,...